두성기술(대표 강남욱, www.du-sung.com)이 개발한 반도체 신뢰성 테스트 장비인 DS2000/DS2000P System은 전력 반도체 소자(FET, IGBT, POWER Tr.), 소신호 Tr., LED 소자 및 Automotive용 IGBT 파워모듈, MOSFET 파워모듈, SiC MOSFET 파워모듈 등의 신뢰성 테스트에 사용되며, HTRB(High Temperature Reverse Bias), HTGB(High Temperature Gate Bias) 신뢰성
